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菲希爾 Feritscope FMP30 鐵(tie)素體(ti)含量(liang)測(ce)試儀(yi)(yi),FERITSCOPE根(gen)據磁感(gan)應方(fang)法(fa)測(ce)量(liang)奧(ao)氏體(ti)鋼(gang)(gang)和雙(shuang)相鋼(gang)(gang)中的(de)鐵(tie)素體(ti)含量(liang)。儀(yi)(yi)器能(neng)識別所(suo)有的(de)磁性部件，也就是說，除了delta鐵(tie)素體(ti)，還(huan)能(neng)識別其轉(zhuan)化形(xing)式馬(ma)氏體(ti)。儀(yi)(yi)器符合Basler標(biao)準(zhun)和DIN 32514-1標(biao)準(zhun)

TCEW-1000，交直流(liu)磁(ci)(ci)粉探(tan)傷(shang)(shang)機(ji) TCEW-1000交直流(liu)磁(ci)(ci)粉探(tan)傷(shang)(shang)機(ji)是根據磁(ci)(ci)化(hua)原理設計的(de)，TCEW-1000用(yong)于檢查鐵磁(ci)(ci)性材料制成的(de)零件，可以發現零件表(biao)面或近表(biao)面因鍛壓，淬火，研磨，疲(pi)勞裂紋，非金屬雜質等極細微的(de)缺陷及裂紋；TCEW-1000交直流(liu)磁(ci)(ci)粉探(tan)傷(shang)(shang)機(ji)采用(yong)可控(kong)硅調壓技術，并選用(yong)進口“PC”機(ji)進行(xing)自動(dong)程序控(kong)制，夾(jia)持—噴灑磁(ci)(ci)懸液—磁(ci)(ci)化(hua)—判廢—松夾(jia)。其夾(jia)持采用(yong)氣(qi)缸夾(jia)緊方法(fa)。

TCEW-2000A，交直(zhi)流(liu)磁(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)傷(shang)機 交直(zhi)流(liu)磁(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)傷(shang)機TCEW-2000A是根(gen)據磁(ci)化(hua)原理設計的。其周向磁(ci)化(hua)采(cai)用(yong)(yong)交流(liu)電，縱向磁(ci)化(hua)采(cai)用(yong)(yong)直(zhi)流(liu)電。交直(zhi)流(liu)磁(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)傷(shang)機TCEW-2000A用(yong)(yong)于檢查鐵磁(ci)性材料制(zhi)成的零件(jian)，可以發現零件(jian)表(biao)面(mian)或近表(biao)面(mian)因鍛(duan)壓(ya)、淬(cui)火、研磨(mo)、疲(pi)勞(lao)裂紋(wen)、非(fei)金屬雜質等極(ji)細微的缺陷及裂紋(wen)；交直(zhi)流(liu)磁(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)傷(shang)機TCEW-2000A行程探(tan)頭采(cai)用(yong)(yong)電機傳動夾持零件(jian)。

交直(zhi)流(liu)(liu)兩(liang)(liang)用(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉探(tan)傷機(ji)TCEW-4000A 交直(zhi)流(liu)(liu)兩(liang)(liang)用(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉探(tan)傷機(ji)TCEW-4000A是根據磁(ci)(ci)化原理設計而成的(de)(de)(de)，其(qi)周向(xiang)磁(ci)(ci)化采(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)交流(liu)(liu)電，縱向(xiang)磁(ci)(ci)化采(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)直(zhi)流(liu)(liu)電。交直(zhi)流(liu)(liu)兩(liang)(liang)用(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉探(tan)傷機(ji)TCEW-4000用(yong)(yong)(yong)(yong)于(yu)檢驗鐵磁(ci)(ci)性材料(liao)制成的(de)(de)(de)零件，無論其(qi)幾何形(xing)狀繁(fan)簡，可以(yi)發現零件表(biao)面(mian)因(yin)鍛壓(ya)、淬火、研磨、疲(pi)勞(lao)裂痕以(yi)及夾渣等細(xi)微的(de)(de)(de)缺陷。交直(zhi)流(liu)(liu)兩(liang)(liang)用(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉探(tan)傷機(ji)TCEW-4000是深離零件表(biao)面(mian)的(de)(de)(de)缺陷卻不能利用(yong)(yong)(yong)(yong)此(ci)法(fa)檢查。

交直(zhi)流(liu)兩用(yong)磁粉(fen)(fen)探傷(shang)(shang)機TCEW—6000 交直(zhi)流(liu)兩用(yong)磁粉(fen)(fen)探傷(shang)(shang)機TCEW—6000是根據(ju)磁化原理設(she)計而成(cheng)的(de)，其(qi)周向磁化采(cai)用(yong)交流(liu)電(dian)，縱(zong)向磁化采(cai)用(yong)直(zhi)流(liu)電(dian)。交直(zhi)流(liu)兩用(yong)磁粉(fen)(fen)探傷(shang)(shang)機TCEW—6000用(yong)于檢驗鐵磁性材料制成(cheng)的(de)零(ling)件，無(wu)論其(qi)幾何形狀繁(fan)簡(jian)，可以發現(xian)零(ling)件表面(mian)因(yin)鍛壓、淬火、研磨、疲勞(lao)裂痕以及(ji)夾(jia)渣等細微的(de)缺陷(xian)。但是深離(li)零(ling)件表面(mian)的(de)缺陷(xian)卻(que)不能利(li)用(yong)此(ci)法檢查。

便(bian)攜式探傷(shang)儀(yi),美國派(pai)克DA400S磁(ci)粉探傷(shang)儀(yi)采用了許(xu)多先進技術來形成感應(ying)磁(ci)場，具有通用性；$n控制器(qi)(qi)與(yu)固態(tai)電子器(qi)(qi)件為(wei)一體的(de)高性能(neng)的(de)輕(qing)便(bian)儀(yi)器(qi)(qi)；$n固定的(de)AC或DC磁(ci)場，用于表面和近表面缺陷的(de)檢測(ce)；$n可將(jiang)高能(neng)磁(ci)場集中(zhong)施加(jia)到檢測(ce)區，快速準(zhun)確發(fa)現材料缺陷；

美國派克B100S磁(ci)粉探傷(shang)儀特點：$n耐用的機殼，靈活的磁(ci)極，使(shi)您的測試隨心(xin)所(suo)欲；$n可(ke)選配DC300直(zhi)流脈(mo)沖電(dian)源，形成強直(zhi)流磁(ci)場(chang)；$n磁(ci)極可(ke)將(jiang)高(gao)能的磁(ci)場(chang)集中施加到各種形狀工件檢測區(qu)，快速準確(que)發現(xian)材(cai)料中的缺陷；一年質量保(bao)證。

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